NIKON
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NIKON XTV 130 C
Le système NIKON XT V 130C est un système d’inspection à rayons X pour les cartes et des composants électroniques et des semi-conducteurs. -
NIKON XTV 160 Nanotech
Spécifiquement conçu pour être utilisé sur les lignes de production et dans les laboratoires d’analyse des ruptures, le système NIKON XT V 160 peut être configuré avec des composants système de toute première qualité afin d’optimiser ses performances en fonction de vos besoins.