NIKON

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  • NIKON XTV 130 C

    Le système NIKON XT V 130C est un système d’inspection à rayons X pour les cartes et des composants électroniques et des semi-conducteurs.

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  • NIKON XTV 160 Nanotech

    Spécifiquement conçu pour être utilisé sur les lignes de production et dans les laboratoires d’analyse des ruptures, le système NIKON XT V 160 peut être configuré avec des composants système de toute première qualité afin d’optimiser ses performances en fonction de vos besoins.

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