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NIKON XTV 160 Nanotech

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NIKON XTV 160 Nanotech

Descriptif complet :
Spécifiquement conçu pour être utilisé sur les lignes de production et dans les laboratoires d’analyse des ruptures, le système NIKON XT V 160 peut être configuré avec des composants système de toute première qualité afin d’optimiser ses performances en fonction de vos besoins.
En plus de l’inspection pilotée en temps réel, le processus d’inspection peut être entièrement automatisé pour maximiser la productivité.

Principales caractéristiques

  • Source X NanoTech 160kV / 20W brevetée avec reconnaissance des entités inférieures au micron.
  • Détectabilité : 500 nm
  • Détecteur X "Flat Panel" VAREX 1515DX-1,3 Mpixels - 16 bits .
  • Détecteur X "Flat Panel" VAREX 1512 - 2,85 Mpixels - 14 bits (en option)
  • Détecteur X "Flat Panel" VAREX 2520DX - 2,85 Mpixels - 16 bits (en option)
  • Manipulateur type orbital 5 axes (X, Y, Z, Rotation, Inclinaison)
  • Inclinaison de 0 à 72°
  • Imagerie en temps réel ou inspection automatisée.
  • Prêt à recevoir les applications de Tomographie Numérique et laminographie X (en option).

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