ANTYCIP une offre Leader d'équipements pour la fabrication et le test de produits microélectroniques et électroniques

           FR  EN  ESP
Produits

Equipements pour la production et le test de cartes

X Fermer
Nos experts techniques restent à votre disposition pour répondre à vos questions par téléphone

+33 1 70 26 08 25

Accueil / Equipements pour la production et le test de cartes / Machines d'inspections à rayons X semi-automatiques / NIKON XTV 160 Nanotech

NIKON XTV 160 Nanotech

RECHERCHER
Par marques :
Par mots-clés :
  

NIKON XTV 160 Nanotech

Descriptif complet :
Spécifiquement conçu pour être utilisé sur les lignes de production et dans les laboratoires d’analyse des ruptures, le système NIKON XT V 160 peut être configuré avec des composants système de toute première qualité afin d’optimiser ses performances en fonction de vos besoins.
En plus de l’inspection pilotée en temps réel, le processus d’inspection peut être entièrement automatisé pour maximiser la productivité.

Principales caractéristiques

  • Source X NanoTech 160kV / 20W brevetée avec reconnaissance des entités inférieures au micron.
  • Détectabilité : 500 nm
  • Détecteur X "Flat Panel" VAREX 1515DX-1,3 Mpixels - 16 bits .
  • Détecteur X "Flat Panel" VAREX 1512 - 2,85 Mpixels - 14 bits (en option)
  • Détecteur X "Flat Panel" VAREX 2520DX - 2,85 Mpixels - 16 bits (en option)
  • Manipulateur type orbital 5 axes (X, Y, Z, Rotation, Inclinaison)
  • Inclinaison de 0 à 72°
  • Imagerie en temps réel ou inspection automatisée.
  • Prêt à recevoir les applications de Tomographie Numérique et laminographie X (en option).

AUTRES PRODUITS DANS Equipements pour la production et le test de cartes
NIKON XTV 130 C

PRODUITS
CONTACT

Renseignement, Devis, Etude de cahier des charges, n'hésitez pas à nous contacter

Mentions légales - Protection des données personnelles - Crédit photo - Copyright Antycip 2018 - Administration
  OK