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Descriptif complet :
Le système NIKON XT V 130C est un système d’inspection à rayons X pour les cartes et des composants électroniques et des semi-conducteurs.
Abordable et évolutif, le système XTV 130 C comprend une source X 130kV/10W de dernière génération fabriquée par Nikon Metrology, un tube à transmission de fort grossissement à générateur intégré, et une chaîne d’imagerie à haute résolution.
L’utilisateur final pourra, s'il le souhaite faire évoluer sa machine au travers de mises à jour et configurer son système en fonction de ses propres besoins.
Principales caractéristiques
Descriptif complet :
Spécifiquement conçu pour être utilisé sur les lignes de production et dans les laboratoires d’analyse des ruptures, le système NIKON XT V 160 peut être configuré avec des composants système de toute première qualité afin d’optimiser ses performances en fonction de vos besoins.
En plus de l’inspection pilotée en temps réel, le processus d’inspection peut être entièrement automatisé pour maximiser la productivité.
Principales caractéristiques
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