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TestSys
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Machines d'inspection à rayons X
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DESCRIPTIF COMPLET :
Avec les dernières technologies Nanotech et de micro-tomographie X, Metris offre des solutions innovantes et performantes pour la caractérisation et le contrôle non destruction des composants microélectroniques.
Les caractéristiques clés :
• Source de Technologie Nanotech
• Manipulateur Orbital
• Détecteurs digitaux de dernière génération type Silicium amorphe
• Fort grossissement géométrique
• Micro-tomographie
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Lien vers site constructeur
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